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Instrumento de prueba
Analizador Piezoeléctrico a Base de Hierro Analizador TF 1000
Probador de parámetros de semiconductores FS-Pro
Pruebas integradas
Ultra-rápido
Arquitectura modular
Fácil de operar
Capacidad única de prueba de ruido 1/f
Pruebas de caracterización de dispositivos semiconductores discretos, incluyendo resistores, diodos, diodos emisores de luz (LEDs), diodos Zener, diodos PIN, transistores BJT, MOSFET y dispositivos SiC, entre otros;
Pruebas de Caracterización de Energía y Eficiencia para LED/AMOLED, Células Solares, Baterías, Convertidores DC-DC y Más
Pruebas de características de sensores, incluyendo resistividad y el efecto Hall, entre otros.
Caracterización de materiales orgánicos, incluyendo tinta electrónica y tecnologías de electrónica impresa, entre otros.
Pruebas de propiedades de nanomateriales: grafeno, nanocables y más
2400 está diseñado específicamente para aplicaciones de prueba que requieren una fuente de excitación y funcionalidad de medición estrechamente integradas—tareas que exigen una fuente de voltaje precisa mientras permiten simultáneamente mediciones de corriente y voltaje.
El Digital SourceMeter de la serie KEITHLEY 2600B es el instrumento más reciente de medición de fuentes I-V de Keithley, diseñado para funcionar tanto como una herramienta de nivel de banco destinada a la caracterización I-V como un componente clave de sistemas de pruebas I-V multicanales.