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Analizador Piezoeléctrico a Base de Hierro TF Analyzer 3000
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Analizador electroanalítico de voltaje TF Analyzer 3000
El TF ANALYZER 3000E es un analizador ferroeléctrico y piezoeléctrico modular de alta velocidad y altamente escalable, equipado con capacidades de prueba exhaustivas para todas las propiedades fundamentales de los materiales ferroeléctricos, piezoeléctricos y piroeléctricos. Puede integrarse sin problemas con sensores de microdesplazamiento tales como interferómetros láser y microscopios de sonda de barrido SPM, lo que lo convierte en una herramienta ideal para la investigación en diversos campos, incluyendo diversas películas delgadas ferro-/piezo-/piroeléctricas, películas gruesas, materiales en masa, cerámicas electrónicas, así como sensores ferroeléctricos, actuadores y dispositivos de memoria.
El TF Analyzer 3000, diseñado de manera modular, cuenta con una escalabilidad excepcional.
- Módulo FE – Prueba estándar ferroeléctrica;
- Módulo MR – Prueba de materiales magnetorresistivos y ferromagnéticos;
- Módulo RX – Prueba de Corriente de Relajación;
- Módulo DR - Prueba de Autodescarga.
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Prueba de unidad básica: Incluye un host de computadora dedicado completamente integrado, junto con placas de prueba, amplificadores operacionales, unidades de procesamiento de datos y más. También cuenta con el sistema operativo Windows 7 y software especializado para analizadores ferroeléctricos.
Función de prueba estándar del módulo FE:
- Histeresis dinámica: Frecuencia de prueba para los bucles de histeresis dinámica (módulo FE mejorado: 250 kHz; módulo FE mejorado de alta velocidad: 1 MHz);
- Prueba de lazo de histéresis estático;
- Prueba de pulso PUND;
- Prueba de fatiga;
- Retención: Poder de sujeción;
- Impresión: Rastros;
- Prueba de corriente de fuga;
- Función de prueba con temperatura variable para medición térmica.
Funciones de prueba opcionales para el módulo FE:
- Curva C-V: Curva de capacitancia-tensión;
- Medición piezo: Pruebas de rendimiento piezoeléctrico;
- Medición piroeléctrica: Prueba de propiedades de emisión térmica;
- Compensación in situ;
- Función de compensación dinámica de corriente de fuga DLCC;
- Medición de impedancia – Prueba de impedancia (disponible solo para la versión mejorada de alta velocidad).
Nota técnica:
- Rango de voltaje: ±25 V (amplificadores adicionales de alto voltaje opcionales pueden extenderse hasta ±10 kV);
- Frecuencia electrostrictiva: Módulo FE mejorado – 250 kHz; Módulo FE mejorado de alta velocidad – 1 MHz.
- Ancho de pulso mínimo: 50 ns;
- Tiempo de subida mínimo: 10 ns;
- Frecuencia de reloj máxima: 16 MHz;
- Rango de amplificación actual: 1 pA a 1 A;
- Capacitancia de carga máxima: 1 nF;
- Pico de corriente de salida: ±1 A.
Componentes escalables:
Amplificadores de alto voltaje, interferómetros láser, AFM, controladores de temperatura, etapas de calentamiento y enfriamiento basadas en sondas de película delgada, soportes para muestras en masa con temperatura variable, hornos en masa para control de temperatura, plataformas de prueba E31 para películas delgadas, imanes superconductores, sistemas PPMS, analizadores de impedancia y más.
El módulo MR se utiliza para estudiar la magnetorresistencia y los materiales ferromagnéticos.
Este módulo proporciona excitación y pruebas con corriente continua, y las caídas de tensión a través de la muestra se miden utilizando un método de cuatro puntos de alta precisión.
El módulo RX está diseñado para estudiar las corrientes de polarización y despolarización en materiales dieléctricos y ferroeléctricos, específicamente, la respuesta de corriente tras un paso de voltaje aplicado.
Esta prueba puede separar la corriente de relajación del material de la corriente de fuga, y también permite registrar tanto la corriente de respuesta de polarización como la corriente de respuesta de despolarización.
El módulo DR se utiliza para estudiar las propiedades de autoleakaje de los materiales dieléctricos. 。
Dado que las condiciones de prueba imitan estrechamente los escenarios del mundo real, este enfoque facilita la evaluación de la idoneidad de los materiales para su uso en DRAM.
Para aplicaciones industriales, el TF Analyzer 3000 ofrece 256 canales de prueba automatizados, lo que amplía significativamente las capacidades de prueba del instrumento. 。
Todos los módulos mencionados anteriormente se pueden seleccionar individualmente o combinarse libremente, según sus necesidades de prueba y enfoque de investigación.