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Analizador Piezoeléctrico a Base de Hierro TF Analyzer 2000E
Módulo FE – Prueba estándar ferroeléctrica;
Módulo MR – Prueba de materiales magnetorresistivos y ferromagnéticos;
Módulo RX – Prueba de Corriente de Relajación;
Módulo DR - Prueba de Autodescarga.
Instrumento de prueba
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El TF ANALYZER 2000E es un analizador ferroeléctrico y piezoeléctrico modular altamente escalable, equipado con capacidades de prueba exhaustivas para todas las propiedades fundamentales de los materiales ferroeléctricos, piezoeléctricos y piroeléctricos. Puede integrarse sin problemas con sensores de microdesplazamiento tales como interferómetros láser y microscopios de sonda de barrido SPM, lo que lo convierte en una herramienta ideal para la investigación en diversas áreas, incluyendo películas delgadas ferro-/piezo-/piroeléctricas diversas, películas gruesas, materiales en masa, cerámicas electrónicas, así como sensores ferroeléctricos, actuadores y dispositivos de memoria.
El TF Analyzer 2000 E, diseñado de manera modular, ofrece una escalabilidad excepcional.- Módulo FE – Prueba estándar ferroeléctrica;
- Módulo MR – Prueba de materiales magnetorresistivos y ferromagnéticos;
- Módulo RX – Prueba de Corriente de Relajación;
- Módulo DR - Prueba de Autodescarga.
Las unidades básicas probadas incluyen un host de computadora dedicado totalmente integrado, junto con placas de prueba, amplificadores operacionales, unidades de procesamiento de datos y más. El sistema también cuenta con el sistema operativo Windows 7 y software especializado para analizadores ferroeléctricos.
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Función de prueba estándar del módulo FE:
- Histeresis dinámica: Frecuencia de prueba del bucle de histeresis dinámica (módulo FE estándar: 0,001 Hz a 5 kHz);
- Prueba de lazo de histéresis estático;
- Prueba de pulso PUND;
- Prueba de fatiga;
- Retención: Retener el poder;
- Impresión: Rastros;
- Prueba de corriente de fuga;
- Función de prueba con temperatura variable para medición térmica.
Función de prueba opcional del módulo FE ：
- Curva C-V: Curva de capacitancia-tensión;
- Medición piezo: Pruebas de rendimiento piezoeléctrico;
- Medición piroeléctrica: Prueba de propiedades de emisión térmica;
- Compensación in situ;
- Función de compensación dinámica de corriente de fuga DLCC.
Nota técnica:
- Rango de voltaje: ±25 V (un amplificador adicional de alto voltaje opcional puede extenderse hasta ±10 kV);
- Frecuencia electrostrictiva: 5 kHz (módulo FE estándar);
- Ancho de pulso mínimo: 2 μs;
- Tiempo de subida mínimo: 1 μs;
- Rango de amplificación actual: 1 pA a 1 A;
- Capacitancia de carga máxima: 1 μF;
- Pico de corriente de salida: ±1 A.
Componentes escalables:
Amplificadores de alto voltaje, interferómetros láser, AFM, controladores de temperatura, etapas de calentamiento y enfriamiento basadas en sondas de película delgada, soportes para muestras en masa con temperatura variable, hornos en masa con control de temperatura, plataformas de prueba E31 para películas delgadas, imanes superconductores, sistemas PPMS y más.
El módulo MR se utiliza para estudiar la magnetorresistencia y los materiales ferromagnéticos.
Este módulo proporciona excitación y pruebas con corriente continua, y las caídas de tensión a través de la muestra se miden utilizando un método de cuatro puntos de alta precisión.
El módulo RX está diseñado para estudiar las corrientes de polarización y despolarización en materiales dieléctricos y ferroeléctricos, específicamente, la respuesta de corriente tras un paso de voltaje aplicado. 。
Esta prueba puede separar la corriente de relajación del material de la corriente de fuga, y también permite registrar tanto la corriente de respuesta de polarización como la corriente de respuesta de despolarización.
El módulo DR se utiliza para estudiar las propiedades de autoleakaje de los materiales dieléctricos.
Dado que las condiciones de prueba imitan estrechamente los escenarios del mundo real, este enfoque facilita la evaluación de la idoneidad de los materiales para su uso en DRAM.
Para aplicaciones industriales, el TF Analyzer 2000E ofrece 256 canales de prueba automatizados, lo que amplía significativamente las capacidades de prueba del instrumento.
Todos los módulos mencionados anteriormente se pueden seleccionar individualmente o combinarse libremente, según sus necesidades de prueba y enfoque de investigación.