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Probador de parámetros de semiconductores FS-Pro
Pruebas integradas
Ultra-rápido
Arquitectura modular
Fácil de operar
Capacidad única de prueba de ruido 1/f
Instrumento de prueba
- Descripción
- Parámetros
- Descargar
- Video
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√ Pruebas integradas
FS-Pro™ integra pruebas de corriente continua, pruebas de pulsos, pruebas transitorias, pruebas de capacitancia y pruebas de ruido de baja frecuencia (ruido 1/f) en un solo instrumento, lo que permite una caracterización completa de parámetros de baja frecuencia sin necesidad de cambiar cables ni volver a realizar las mediciones.
√ Ultrarrápido
FS-Pro™ presenta una tecnología de pruebas impulsada por IA, que ofrece velocidades de prueba hasta 10 veces más rápidas que los sistemas tradicionales de prueba de parámetros de semiconductores—mientras mantiene una precisión de prueba inigualable incluso a esta velocidad mejorada.
√ Arquitectura modular
FS-Pro™ cuenta con una arquitectura modular que permite una expansión escalable manteniendo un factor de forma compacto, y admite pruebas paralelas multicanal —hasta 20 canales— para manejar sin esfuerzo pruebas de producción de alta densidad.
√ Fácil de operar
El software integrado de control de medición, LabExpress™, cuenta con una interfaz gráfica de usuario intuitiva que permite a los usuarios realizar potentes funciones de prueba y análisis con solo unos pocos clics del mouse. Además, es compatible con una amplia gama de equipos, incluyendo diversas estaciones de sonda y conmutadores matriciales, lo que posibilita la automatización sin interrupciones de las tareas de prueba de datos a nivel de oblea. Lo mejor de todo es que ofrece una solución integral especialmente adaptada para la fabricación de semiconductores.
√ Capacidad única de prueba de ruido 1/f
Especialmente para dispositivos de procesos avanzados, dispositivos de materiales bidimensionales y detectores optoelectrónicos, el ruido 1/f constituye uno de los parámetros intrínsecos y críticos de estos dispositivos. El desempeño del ruido 1/f determina directamente las capacidades de aplicación práctica de un dispositivo. Ampliamente presente en dispositivos semiconductoras de diversos materiales y estructuras, el ruido 1/f también revela con gran sensibilidad muchos defectos ocultos tanto en los materiales como en los dispositivos. Como resultado, la medición y el análisis del ruido 1/f se han convertido en una nueva herramienta poderosa para evaluar la calidad, la caracterización y la fiabilidad de los dispositivos semiconductoras.
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Mediciones de rendimiento de componentes clave
Unidad de Medición de Fuentes de Alta Precisión (SMU) FS380
● Prueba de CC
Rango de medición de ±200 V/1 A, con una potencia de salida de hasta 200 W, precisión mínima de medición de corriente de 30 fA, precisión de medición de voltaje de 30 µV y operación en los cuatro cuadrantes.
● Prueba de pulsos
Rango de medición de ±200 V / 3 A, con una potencia de salida máxima de 480 W, precisión mínima de medición de corriente de 5 pA, precisión de medición de voltaje tan baja como 30 µV y un ancho de pulso mínimo de 50 µs.
● Pruebas transitorias
Salida de forma de onda arbitraria con una frecuencia de muestreo máxima de 1,8 MS/s y un paso de tiempo mínimo de 10 µs.
● Prueba de capacitancia (CV)
Rango de medición de ±200 V/1 A, ancho de banda de 10 Hz–10 kHz y capacidad de medición desde 20 fF hasta 1 mF
● Prueba de ruido 1/f
Ancho de banda: 0,1 Hz a 100 kHz, con un nivel de ruido de fondo de 1 × 10⁻²⁸ A²/Hz, una polarización de 200 V y una velocidad de prueba de 8 segundos por polarización.
Módulo LCR externo FS336
● Prueba de capacitancia (CV, CF)
● Rango de ±40 V, ancho de banda de 40 Hz–8 MHz
● Rango de medición de 100 fF a 10 mF
Software gráfico de pruebas Labexpress
El software de medición LabExpress™ ofrece capacidades integrales para pruebas en corriente continua, pulsos, transitorios, capacitancia y ruido. Viene con una biblioteca incorporada de tipos comunes de dispositivos MOSFET, BJT, diodo, resistor y capacitor, proporcionando una amplia gama de opciones de prueba versátiles—lo que facilita el inicio incluso para principiantes sin conocimientos previos sobre dispositivos. Además, LabExpress™ ofrece una solución completa adaptada específicamente a las necesidades diarias de las fábricas de obleas de semiconductores. Cuando se trata del análisis de datos de pruebas, LabExpress™ tampoco se queda atrás. Gracias a sus sólidas funciones de transformación y trazado de curvas, junto con operaciones algebraicas convenientes, analizar los resultados en tiempo real nunca ha sido tan sencillo.
Uso industrial
En el sector industrial, FS-Pro™ ya ha sido adoptado por varias firmas de diseño líderes a nivel mundial, así como por fundiciones de semiconductores, IDM y empresas de diseño—lo que demuestra una precisión, velocidad y confiabilidad excepcionales que han superado con éxito rigurosas certificaciones industriales. Mientras tanto, en la comunidad de investigación, FS-Pro™ ha sido acogido por docenas de universidades e instituciones de investigación, apoyando hasta la fecha la publicación de numerosos artículos académicos de vanguardia. El ruido de baja frecuencia, reconocido cada vez más por los estudiosos como una herramienta experimental no destructiva eficaz, se está convirtiendo en un método de elección para muchos investigadores. Como único analizador de parámetros de semiconductores integrado con capacidades avanzadas de prueba de ruido, FS-Pro™ está desempeñando un papel indispensable en el desarrollo de materiales y dispositivos de próxima generación en la vanguardia de la innovación.