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Estación de sonda de doble cara CH-8-D
La estación de sondeo de doble cara CINDBEST CH-8-D está diseñada para pruebas de obleas y PCB, permitiendo el sondeo simultáneo en ambas caras, frontal y trasera, para satisfacer diversas exigencias de pruebas ópticas y eléctricas.
Esta estación de sonda personalizada cuenta con un excelente sistema mecánico, una estructura estable, un diseño ergonómico y múltiples funcionalidades mejoradas.
Estación de sondas de gama alta serie CH
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La estación de sonda de doble cara CINDBEST CH-8-D está diseñada para pruebas de obleas y placas PCB, siendo ideal para aplicaciones que requieren sondeado simultáneo tanto en la cara frontal como en la trasera, a fin de satisfacer diversas necesidades de pruebas ópticas y eléctricas. Esta estación de sondas personalizada cuenta con un sistema mecánico avanzado, una estructura robusta y estable, un diseño ergonómico y varias funcionalidades mejoradas. Es ampliamente aplicable en diversos campos de fabricación e investigación, incluyendo circuitos integrados, obleas, LED, LCD, células solares y más.
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Especificaciones técnicas
Modelo Estación de sonda de doble cara CH-8-D
Pirámide truncada
Tamaño de Chuck
8 pulgadas
Rotación horizontal
El mandril puede girar 360 grados, con una precisión de ajuste fina de no más de 0,1 grado, y cuenta con un botón de bloqueo.
Distancia de desplazamiento XY
8 pulgadas por 8 pulgadas
Precisión del movimiento XY
10 µm / 1 µm opcional
Fijación de muestras
Abrazadera de muestra con tamaño ajustable; adsorción por vacío para una sujeción segura, y la zona de succión multicorona del mandril puede controlarse de forma independiente.
Plataforma de aguja punteadora de doble cara
La plataforma elevadora neumática se levanta para formar una plataforma dual, y cuando se baja, puede utilizarse como una sola plataforma.
Número de zócalos de pines de la plataforma
Una sola plataforma puede alojar hasta 8 enchufes de clavija CB-200.
Estructura de Chuck
Opciones disponibles para estructuras de electrodos estándar, de alta temperatura y con contacto trasero
Sistema de control de temperatura
Rango de temperatura
Temperatura ambiente ~200°C (disponibles opciones de 300°C, 400°C y 500°C)
Resolución de control de temperatura
0,1℃
Estabilidad del control de temperatura
±1°C
Sensor de control de temperatura
Sensor de resistencia de platino de 100 Ω
Sistema óptico de frente
CCD
200 W / 500 W / 1200 W píxeles disponibles (ambos lados)
Tipos de microscopios
Microscopios de tubo único/Zoom/Estéreo/Metalográficos disponibles
Poder de ampliación
16X-100X/20X-2000X
Ajuste del microscopio
Gire horizontalmente alrededor de la columna, con un movimiento X-Y de 2 × 2 pulgadas y una carrera del eje Z de 50,8 mm.
Fuente de luz
Anillo de luz LED externo / Fuente de luz coaxial
Sistema óptico trasero
Tipos de microscopios
Microscopio monocular en forma de L
Relación de zoom continuo
6,3:1
Rango de ampliación
0,75 – 5X
Poder de ampliación
315X (Fórmula de cálculo: Zoom × CCD × Pantalla)
Ajuste del microscopio
Movilidad omnidireccional
Fuente de luz
Fuente de luz coaxial