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Estación de sonda para análisis de microfugas de fotones EMMI
Sistema de Pruebas EMMI
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El Sistema de Análisis para la Localización de Microfugas de Fotones EMMI es una herramienta crucial en el análisis de fallas en circuitos integrados, ya que la localización de fugas es una capacidad esencial para los analistas de fallas. Durante su funcionamiento, los fenómenos de microfuga son bastante comunes en los chips; sin embargo, bajo condiciones extremas, incluso fugas sutiles pueden agravarse de manera incontrolable, lo que podría provocar la falla del chip o incluso disfunciones completas en todo el sistema. Por lo tanto, identificar y analizar las microfugas en los chips constituye un paso excepcionalmente crítico dentro del proceso más amplio de investigación de fallas en circuitos integrados.
Para abordar el análisis de fallas en dispositivos semiconductores de banda ancha, como GaN y SiC, la empresa ha introducido un sistema de pruebas EMMI con un rango de longitud de onda de respuesta de 400 nm a 1000 nm. Este sistema avanzado permite la localización precisa de corrientes de fuga del orden de microamperios en chips, incluyendo HEMT de GaN, LED de GaN, PD de SiC, uniones de SiC, MOSFET basados en Si e ICs. Con una resolución espacial superior a 1 μm, este sistema es capaz de capturar imágenes incluso de señales luminosas extremadamente débiles.
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- Máxima eficiencia cuántica: 82 % @ 560 nm
- Resolución efectiva: 2048×2048
- Área efectiva: 13,312 mm × 13,312 mm
- Temperatura de refrigeración: 10°C
- Corriente oscura: 0,6 electrones/píxel/s
- Tasa de fotogramas: 30 Hz
- Rango de longitud de onda: 400 nm – 1100 nm
- Interfaz: USB 3.0