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Estación de sonda semiautomática CP300
Sistema de Visualización Óptica con Multiplicación de Magnificación
Compatible con pruebas de ensayo y dicing de obleas de 12”, 8”, 6” y 4”
El sistema interno de suspensión neumática aísla eficazmente las vibraciones externas.
Sistema de control integrado para acceso rápido a las pruebas de instrumentos
Pruebas de automatización de software, calibración precisa de la exactitud mecánica
Velocidad de desplazamiento del eje X-Y: 70 mm/seg, precisión de posicionamiento repetido: ≤±1 μm
Velocidad de desplazamiento del eje Z: 20 mm/seg, Repetibilidad de posicionamiento del eje Z: ≤ ±μm
Precisión del eje R: 0,0001°, precisión de posicionamiento repetido: ≤±1 μm
Estación de sonda semiautomática de la serie CP
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Apto para: Pruebas de fotónica de silicio en chips de módulos ópticos, pruebas de alto voltaje y alta corriente en dispositivos de potencia, aplicaciones de RF y ondas milimétricas, pruebas de carga-pull y verificación de diseño de IC. También admite pruebas a temperaturas altas y bajas, con un rango de temperatura de -60°C a 300°C.
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- Sistema de Visualización Óptica de Multiplicación de Magnificación
- Compatible con pruebas de ensayo y dicing de obleas de 12", 8", 6" y 4".
- El sistema interno de suspensión neumática aísla eficazmente las vibraciones externas.
- Sistema de control integrado para acceso rápido a las pruebas de instrumentos
- Pruebas de automatización de software, calibración precisa de precisión mecánica
- Velocidad de movimiento del eje X-Y: 70 mm/seg, precisión de posicionamiento repetido: ≤±1 μm
- Velocidad de desplazamiento del eje Z: 20 mm/seg, Repetibilidad de posicionamiento del eje Z: ≤ ±μm
- Precisión del eje R: 0,0001°, precisión de posicionamiento repetido: ≤±1 μm