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Estación de sonda de rango medio CL-6
El sistema de caracterización de dispositivos de alta potencia CINDBEST está diseñado específicamente para probar dispositivos de alta potencia directamente sobre obleas.
Los sistemas de estaciones de sonda CINDBEST CL-6 y CH-8 ofrecen soluciones completas tanto para obleas de 150 mm como de 200 mm.
Están diseñados para permitir mediciones de baja resistencia de contacto en semiconductores de potencia en un amplio rango de temperaturas.
Estación de sondas de gama media de la serie CL
- Descripción
- Parámetros
- Descargar
- Video
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Usos
- Puede utilizarse para aplicaciones de pruebas optoelectrónicas, incluyendo mediciones de intensidad luminosa y longitud de onda para LED, LD y PD.
- La prueba de RF está disponible, con la opción de instalar conectores de pin orientados hacia el este/occidente, ideales para uso general en laboratorios universitarios.
Ergonomía y características opcionales
- La plataforma ajustable del soporte para agujas permite elevar y bajar rápidamente, facilitando la separación rápida de muestras y sondas.
- Chuck gira y se bloquea en su lugar.
- La plataforma del soporte de aguja acomoda posicionadores CC/RF (montados con imán o con vacío).
- Ofreciendo una variedad de configuraciones, incluyendo múltiples opciones de mandriles, microposicionadores, microscopios, cámaras, soportes para PCB y más.
- Estantes de instrumentos opcionales, mesas de aislamiento de vibraciones, cajas oscuras y más
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Especificaciones técnicas
Modelo CL-6
Pirámide truncada
Tamaño de Chuck
6 pulgadas
Cajón de la etapa de muestra
Tirón rápido
Rotación de la etapa de muestra
Gira 360 grados, con capacidad de ajuste fino de 15 grados y precisión de hasta 0,1 grado—equipado con un mecanismo de bloqueo angular.
Método de fijación de muestras
Adhesión por vacío, puerto central de succión, anillo de adhesión multi-anillos
Elevación y descenso del eje Z de la etapa de muestra
Ajustable en 8 mm
Distancia de desplazamiento X-Y
6 pulgadas por 6 pulgadas
Precisión de movimiento X-Y
5um
Plataforma para soporte de aguja
La plataforma del portaganchos cuenta con una carrera de elevación y descenso rápida de 5 mm, completa con un mecanismo de bloqueo.
Prueba de electrodo trasero
La etapa de muestra está aislada eléctricamente y suspendida, con un conector de 4 mm disponible para conectar el electrodo posterior (opcional).
Microscopio
Método de montaje para microscopio
Cabina con ajuste fino X-Y, rango de desplazamiento 2" × 2"
Portabilidad del microscopio
Equipado con un mecanismo de inclinación rápida para facilitar el reemplazo de la lente objetiva, y cuenta con un módulo de elevación accionado neumáticamente con función de bloqueo (opcional).
Tipos de microscopios
Microscopio de lente única
Microscopio estéreo
Microscopio metalográfico
Poder de ampliación
Zoom 0,75x-5x
16X-100X
20X-4000X
Fuente de luz
Fuente de luz coaxial
Anillo de luz LED externo
CCD
2 megapíxeles (actualizable a 20 megapíxeles)
Soporte de sonda
Distancia de desplazamiento X-Y-Z
12 mm x 12 mm x 12 mm / 20 mm x 20 mm x 20 mm
Precisión móvil
10um/2um/0.7um/0.5um
Método de adsorción
Adsorción magnética / Adsorción por vacío
Accesorio de sonda
Cables
Cable coaxial / Cable triaxial / Cable de RF
Precisión de la corriente de fuga
10pA/100fA/10fA
Sonda fija
Fijación por resorte / Fijación tubular / Fijación tipo garra
Tipo de conector
BNC / Tres ejes / Enchufe de plátano / Pinza de cocodrilo / Bloque de terminales / Conector RF
Sonda
Diámetro de la punta de la aguja DC
1um/2um/5um/10um/20um/50um/100um
Frecuencia de la sonda de RF
40GHz/50GHz/67GHz/110GHz/1100GHz
Material
Acero de tungsteno / Cobre berilio / Chapado en níquel
Dimensiones externas
750 ancho x 815 profundo x 650 alto
Peso
Alrededor de 80 kilogramos
Accesorios opcionales
Etapa de calentamiento
Portabrocas chapado en oro
Accesorios para pruebas de alto voltaje
Escritorio resistente a sismos
Caja de apantallamiento
Sistema láser
Personalizado según los requisitos del cliente