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Solución
SOLUCIÓN
Solución
Aprovechando años de experiencia acumulada en colaboración, Cindbest ha transformado numerosos conocimientos técnicos en soluciones prácticas para el mercado. Gracias a avances tecnológicos continuos, hemos logrado empoderar exitosamente a nuestros clientes para optimizar sus procesos de prueba, permitiendo mediciones y resultados de pruebas más precisos.
El núcleo de las pruebas DC IV/CV de la estación de sondas radica en establecer conexiones eléctricas mediante sondas, lo que permite realizar mediciones precisas de las características corriente-tensión (IV) y capacitancia-tensión (CV) de un dispositivo semiconductor cuando se utiliza en conjunto con instrumentos de prueba, ayudando así a evaluar el rendimiento y la confiabilidad del dispositivo.
En el corazón de las pruebas optoelectrónicas en estaciones de sondeo se encuentra el establecimiento de un sistema de conversión y detección «luz-electricidad» en bucle cerrado. Al controlar con precisión las condiciones de iluminación y garantizar un contacto eléctrico estable de la sonda, el sistema mide la respuesta eléctrica de los dispositivos optoelectrónicos bajo excitación lumínica, lo que permite evaluar su eficiencia de conversión fotoeléctrica y su rendimiento general.
En el corazón de las pruebas de reparación con láser en estaciones de sondas se encuentra la localización precisa de defectos y su restauración dirigida. En particular, el proceso aprovecha el sistema de posicionamiento de alta precisión de la estación de sondas —combinado con herramientas de observación óptica como microscopios— para identificar con exactitud la ubicación de los defectos en los dispositivos semiconductores. Una vez que se han localizado los defectos, se utiliza un rayo láser para realizar operaciones de reparación, tales como fundir y eliminar conexiones indeseadas, corregir cortocircuitos, ajustar valores de resistencia o depositar materiales —restaurando así el dispositivo a su funcionalidad prevista.
La solución de pruebas del efecto Hall en estaciones de sondeo es una tecnología central para caracterizar las propiedades eléctricas de materiales y dispositivos semiconductores. Al integrar manipulación mecánica de alta precisión, generación estable de campos magnéticos, control ambiental preciso y análisis inteligente de señales, permite realizar mediciones no destructivas y de alta precisión de parámetros críticos como la concentración de portadores, la movilidad y el tipo de conductividad.
En el corazón de la solución de pruebas RF para estaciones de sondeo se encuentra la capacidad de lograr una transmisión precisa de señales RF, mediciones libres de distorsión y calibración de errores a nivel de sistema —todo ello a nivel de oblea. Al integrar mecanismos avanzados de precisión, vías de señal de alta frecuencia y tecnologías inteligentes de calibración, esta solución aborda eficazmente desafíos críticos en altas frecuencias, tales como el efecto piel, la falta de coincidencia de impedancia y las interferencias parásitas. En última instancia, permite extraer con precisión las características RF clave del Dispositivo Bajo Prueba (DUT), incluyendo parámetros S, niveles de potencia e información de fase.
Pruebas de fotónica de silicio, pruebas de dispositivos de alta potencia, pruebas en vacío a temperaturas altas y bajas, así como pruebas de alto voltaje y alta corriente, entre otras.